0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 62374-1:2010 ED1

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
29. 9. 2010.

Опште информације

60.60     29. 9. 2010.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.99  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62374-1:2010 ED1
60.60 Standard objavljen
29. 9. 2010.