0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC TS 62396-2:2008 ED1

Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems
19. 8. 2008.

Опште информације

99.60     27. 9. 2012.

IEC

TC 107

Техничка спецификација

03.100.50     31.020     49.060  

енглески  

Куповина

Замењен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62396-2:2007 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC TS 62396-2:2008 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
27. 9. 2012.

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 62396-2:2012 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 62396-2:2017 ED2