0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62047-10:2011 ED1

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
26. 7. 2011.

Опште информације

60.60     26. 7. 2011.

IEC

TC 47/SC 47F

Међународни стандард

31.080.99  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62047-10:2011 specifies micro-pillar compression test method to measure compressive properties of MEMS materials with high accuracy, repeatability, and moderate effort of specimen fabrication. The uniaxial compressive stress-strain relationship of a specimen is measured, and the compressive modulus of elasticity and yield strength can be obtained. This standard is applicable to metallic, ceramic, and polymeric materials. The contents of the corrigendum of February 2012 have been included in this copy.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62047-10:2011 ED1
60.60 Стандард објављен
26. 7. 2011.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ОБЈАВЉЕН
IEC 62047-10:2011/COR1:2012 ED1