0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC TS 62916:2017 ED1

Photovoltaic modules - Bypass diode electrostatic discharge susceptibility testing
10. 4. 2017.

Опште информације

60.60     10. 4. 2017.

IEC

TC 82

Техничка спецификација

27.160  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC TS 62916:2017(E) describes a discrete component bypass diode electrostatic discharge (ESD) immunity test and data analysis method. The test method described subjects a bypass diode to a progressive ESD stress test and the analysis method provides a means for analyzing and extrapolating the resulting failures using the two-parameter Weibull distribution function. It is the object of this document to establish a common and reproducible test method for determining diode surge voltage tolerance consistent with an ESD event during the manufacturing, packaging, transportation or installation processes of PV modules.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC TS 62916:2017 ED1
60.60 Стандард објављен
10. 4. 2017.