0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62979:2017 ED1

Photovoltaic modules - Bypass diode - Thermal runaway test
10. 8. 2017.

Опште информације

60.60     10. 8. 2017.

IEC

TC 82

Међународни стандард

27.160  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62979:2017 provides a method for evaluating whether a bypass diode as mounted in the module is susceptible to thermal runaway or if there is sufficient cooling for it to survive the transition from forward bias operation to reverse bias operation without overheating. This test methodology is particularly suited for testing of Schottky barrier diodes, which have the characteristic of increasing leakage current as a function of reverse bias voltage at high temperature, making them more susceptible to thermal runaway.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62979:2017 ED1
60.60 Стандард објављен
10. 8. 2017.

РЕВИДИРАН ОД

ПРОЈЕКАТ
IEC 62979 ED2

Национална преузимања

SRPS EN 62979:2020  
ISS

Fotonaponski moduli- Bajpas dioda - Termička ispitivanja

60.60   Стандард објављен

N082 Сазнај више