Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62951-6:2019 ED1

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films
6. 5. 2019.

Опште информације

60.60     6. 5. 2019.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.99  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62951-6:2019 specifies terms, as well as the test method and report of sheet resistance of the flexible conducting film under bending and folding tests. The measurement methods include the 2-point probe, 4-point probe and Montgomery method, which can be applied to in-situ and ex-situ measurement and the measurements of anisotropic sheet resistance.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62951-6:2019 ED1
60.60 Стандард објављен
6. 5. 2019.