0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 6342:1993

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
5. 8. 1993.
95.99   Повучен   15. 7. 2003.

Опште информације

95.99     15. 7. 2003.

ISO

ISO/TC 171/SC 2

Међународни стандард

37.080  

француски   енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 6342:1993
95.99 Повучен
15. 7. 2003.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 6342:2003