0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

ISO 6342:1993

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
5. 8. 1993.
95.99   Povučen   15. 7. 2003.

Опште информације

95.99     15. 7. 2003.

ISO

ISO/TC 171/SC 2

Međunarodni standard

37.080  

francuski   engleski  

Kupovina

Povučen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Životni ciklus

TRENUTNO

POVUČEN
ISO 6342:1993
95.99 Povučen
15. 7. 2003.

REVIDIRAN OD

OBJAVLJEN
ISO 6342:2003