0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 15632:2002

Microbeam analysis — Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
25. 11. 2002.
95.99   Повучен   31. 7. 2012.

Опште информације

95.99     31. 7. 2012.

ISO

ISO/TC 202

Међународни стандард

71.040.99     37.020  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 15632 defines the most important quantities that characterize an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal processing unit as the essential parts. This International Standard is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid state ionization. It specifies minimum requirements for such spectrometers attached to an electron probe microanalyser (EPMA) or a scanning electron microscope (SEM). Realization of the analysis is outside the scope of this International Standard.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 15632:2002
95.99 Повучен
31. 7. 2012.

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
ISO 15632:2012