0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 18114:2003

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
14. 4. 2003.
95.99   Повучен   11. 5. 2021.

Опште информације

95.99     11. 5. 2021.

ISO

ISO/TC 201/SC 6

Међународни стандард

71.040.40  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 18114:2003 specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials.
The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 18114:2003
95.99 Повучен
11. 5. 2021.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 18114:2021