Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 24173:2009

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
14. 9. 2009.
95.99   Повучен   9. 2. 2024.

Опште информације

95.99     9. 2. 2024.

ISO

ISO/TC 202

Међународни стандард

71.040.50  

енглески   француски  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO 24173:2009
95.99 Повучен
9. 2. 2024.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 24173:2024