0 Ставка

Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд

Главни мени

ISO 17331:2004/Amd 1:2010

Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1

Датум објављивања: 5. 7. 2010.

Опште информације

Тренутна фаза: 60.60 Effective date: 5. 7. 2010.

Иницијатор: ISO

Припада: ISO/TC 201

Врста: Међународни стандард

ICS: 71.040.40

Језик: енглески

Куповина

Статус: Објављен

PDF

Папир

PDF и папир

Језик

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 17331:2004

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
60.60 Стандард објављен
5. 7. 2010.