0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 22278:2020

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
24. 8. 2020.

Опште информације

90.60     3. 12. 2025.

ISO

ISO/TC 206

Међународни стандард

81.060.30  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 22278:2020
90.60 Завршетак поступка преиспитивања стандарда
3. 12. 2025.