0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 17297:2025

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
26. 5. 2025.

Опште информације

60.60     26. 5. 2025.

ISO

ISO/TC 202/SC 1

Међународни стандард

01.040.71     71.040.50  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 17297:2025
60.60 Стандард објављен
26. 5. 2025.