0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

ISO 17297:2025

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
26. 5. 2025.

Опште информације

60.60     26. 5. 2025.

ISO

ISO/TC 202/SC 1

Međunarodni standard

01.040.71     71.040.50  

engleski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
ISO 17297:2025
60.60 Standard objavljen
26. 5. 2025.