0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO/AWI 26665

Microbeam analysis--Preparation of sectional specimens for metallic materials using focused ion beam

Опште информације

20.00     12. 6. 2026.

ISO

ISO/TC 202

Међународни стандард

Апстракт

This document specifies the equipment, sample pretreatment, preparation conditions, and procedures of preparing sectional specimens by using focused ion beam (FIB) technique. This document applies to the preparation of sectional specimens of metal materials, including substrates, surface coatings, and corrosion layers. Other materials may refer to this document for guidance.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
ISO/AWI 26665
20.00 Нови пројекат уписује се у план рада комисије за стандарде
12. 6. 2026.