SRPS EN IEC 60749-5:2024

Полупроводничке компоненте – Методе механичких и климатских испитивања – Део 5: Испитивање стабилности животног века под утицајем температуре и влаге са поларизацијом

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Апстракт

IEC 60749-5:2017(E) обезбеђује испитивање утицаја влаге на век трајања при устаљеној температури а за намену оцене поузданости нехерметички пакованих полупроводничких компоненти у срединама са утицајем влаге. Ово друго издање повлачи и замењује прво издање објављено 2003. године. Ово издање садржи техничку ревизију. Ово издање садржи следеће значајне техничке измене у односу на претходно издање:
a) исправка грешке у једној једначини;
b) укључивање напомена за смернице;
c) појашњење примењивости услова испитивања.