SRPS EN IEC 60749-5:2024

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 5: Ispitivanje stabilnosti životnog veka pod uticajem temperature i vlage sa polarizacijom

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Apstrakt

IEC 60749-5:2017(E) obezbeđuje ispitivanje uticaja vlage na vek trajanja pri ustaljenoj temperaturi a za namenu ocene pouzdanosti nehermetički pakovanih poluprovodničkih komponenti u sredinama sa uticajem vlage. Ovo drugo izdanje povlači i zamenjuje prvo izdanje objavljeno 2003. godine. Ovo izdanje sadrži tehničku reviziju. Ovo izdanje sadrži sledeće značajne tehničke izmene u odnosu na prethodno izdanje:
a) ispravka greške u jednoj jednačini;
b) uključivanje napomena za smernice;
c) pojašnjenje primenjivosti uslova ispitivanja.