Ovaj dokument opisuje uticajne količine i karakteristike instrumenta konfokalnih mikroskopskih sistema za topografsko merenje područja površina. Pošto se površinski profili mogu izvući iz slika površinske topografije, metode opisane u ovom dokumentu mogu se primeniti i na merenju profilisanja.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN ISO 25178-607:2019
ПРОЈЕКАТ
nkSRPS EN ISO 25178-607:2024
30.99
Нацрт комисије стандарда одобрава се за јавну расправу
2. 9. 2026.