Ovaj dokument opisuje uticajne količine i karakteristike instrumenta konfokalnih mikroskopskih sistema za topografsko merenje područja površina. Pošto se površinski profili mogu izvući iz slika površinske topografije, metode opisane u ovom dokumentu mogu se primeniti i na merenju profilisanja.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN ISO 25178-607:2019
ПРОЈЕКАТ
naSRPS EN ISO 25178-607:2024
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
15. 10. 2026.
Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.