Ovaj dokument opisuje uticajne količine i karakteristike instrumenta konfokalnih mikroskopskih sistema za topografsko merenje područja površina. Pošto se površinski profili mogu izvući iz slika površinske topografije, metode opisane u ovom dokumentu mogu se primeniti i na merenju profilisanja.
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 25178-607:2019
PROJEKAT
nkSRPS EN ISO 25178-607:2024
30.99
Nacrt komisije standarda odobrava se za javnu raspravu
2. 9. 2026.