Ovaj dokument opisuje uticajne količine i karakteristike instrumenta konfokalnih mikroskopskih sistema za topografsko merenje područja površina. Pošto se površinski profili mogu izvući iz slika površinske topografije, metode opisane u ovom dokumentu mogu se primeniti i na merenju profilisanja.
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 25178-607:2019
PROJEKAT
naSRPS EN ISO 25178-607:2024
40.20
Nacrt na javnoj raspravi 60 dana
15. 10. 2026.
Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.