prSRPS EN IEC 63364-2:2026

Полупроводнички уређаји – Полупроводнички уређаји за IoT системе – Deo 2: Метода испитивања полупроводничких фотонских извора узимајући у обзир људске факторе за носиву опрему

Semiconductor devices - Semiconductor devices for iot system - Part 2: Test method of semiconductor photon sources incorporating human factors for wearable equipment

Апстракт

Овај део документа одређује процедуре и дефиниције за методу испитивања полупроводничких фотонских извора за носиву опрему. У ову методу испитивања укључени су људски фактори. Документ обрађује фотометрију и ефекте људске влаге који се односе на људе. Описане су техничке дефиниције, објекти и процедуре.