naSRPS EN IEC 60749-29:2026

Полупроводнички уређаји — Методе механичких и климатских испитивања — Део29: „Latch-up” испитивања

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Опште информације

Тренутна фаза: 40.60 Effective date: 3. 4. 2026.

Иницијатор: ISS

Припада: N022

Врста: Европски стандард

ICS: 31.080.01

Језик: енглески

Апстракт

Namena ovog ispitivanja je utvrđivanje metode za određivanje latch-up karakteristika integralnog kola i definisanje kriterijuma latch-up otkaza. Latch-up karakter¬istike se koriste za određivanje pouzdanosti proizvoda i mini¬miziranje neotkrivenih grešaka i otkaza usled električnog prenaprezanja tokom latch-up režima.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 60749-29:2013

ТРЕНУТНО

ПРОЈЕКАТ
naSRPS EN IEC 60749-29:2026
40.60 Завршетак јавне расправе
3. 4. 2026.

naSRPS EN IEC 60749-29:2026

Полупроводнички уређаји — Методе механичких и климатских испитивања — Део29: „Latch-up” испитивања

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Опште информације

Апстракт

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ТРЕНУТНО

Повезани пројекти

Идентичан са prEN IEC 60749-29:2026 IDENTICAL

Идентичан са IEC 60749-29 ED3 IDENTICAL