SRPS EN 60749-35:2008
Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 35: Akustička mikroskopija elektronskih komponenata oklopljenih plastičnim kućištem
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
19. 6. 2008.
Опште информације
60.60
19. 6. 2008.
ISS
N022
Европски стандард
31.080.01
енглески
Апстракт
Ovim delom standarda IEC 60749 definišu se procedure za vršenje akustične mikroskopije na plastičnim hermetički zatvorenim elektronskim komponentama.
Животни циклус
ТРЕНУТНО
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 60749-35:2008
60.60
Стандард објављен
19. 6. 2008.
Повезани пројекти
Идентичан са
EN 60749-35:2006