Повучен
Cilj ispitivanja je utvrđivanje uticaja povišene temperature bez primene električnog napona pri skladištenju za sve poluprovodničke komponente. Ovo ispitivanje obično nije štetno.
ПОВУЧЕН
SRPS EN 60749-6:2008
95.99
Повучен
30. 11. 2020.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 60749-6:2017