0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

SRPS EN 60749-38:2009

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 38: Metoda ispitivanja malih grešaka za poluprovodničke komponente sa memorijom

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
20. 5. 2009.

Опште информације

60.60     20. 5. 2009.

ISS

N022

Европски стандард

31.080.01  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Ovaj deo IEC 60749 utvrđuje proceduru za merenje osetljivosti na male greške poluprovodničkih komponenata sa memorijom kada se izlažu energetskim česticama kao što je alfa zračenje.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 60749-38:2009
60.60 Стандард објављен
20. 5. 2009.

Повезани пројекти

Идентичан са EN 60749-38:2008