0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

SRPS EN 60749-38:2009

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 38: Metoda ispitivanja malih grešaka za poluprovodničke komponente sa memorijom

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
20. 5. 2009.

Опште информације

60.60     20. 5. 2009.

ISS

N022

Evropski standard

31.080.01  

engleski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Ovaj deo IEC 60749 utvrđuje proceduru za merenje osetljivosti na male greške poluprovodničkih komponenata sa memorijom kada se izlažu energetskim česticama kao što je alfa zračenje.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
SRPS EN 60749-38:2009
60.60 Standard objavljen
20. 5. 2009.

Povezani projekti

Identičan sa EN 60749-38:2008