Повучен
Opisuje proceduru za merenje karakteristika kristalnog silicijumovog fotonaponskog (PV) niza na mestu korišćenja i proceduru za ekstrapolaciju ovih podataka u standardne uslove ispitivanja ili ostale izabrane vrednosti temperature ili zračenja.
ПОВУЧЕН
SRPS EN 61829:2011
95.99
Повучен
31. 5. 2017.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 61829:2017