Povučen
Opisuje proceduru za merenje karakteristika kristalnog silicijumovog fotonaponskog (PV) niza na mestu korišćenja i proceduru za ekstrapolaciju ovih podataka u standardne uslove ispitivanja ili ostale izabrane vrednosti temperature ili zračenja.
POVUČEN
SRPS EN 61829:2011
95.99
Povučen
31. 5. 2017.
OBJAVLJEN
SRPS EN 61829:2017