SRPS EN 62374-1:2013

Poluprovodničke komponente — Ispitivanje vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za međumetalne slojeve

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Датум објављивања: 28. 1. 2013.

Опште информације

Тренутна фаза: 60.60 Effective date: 28. 1. 2013.

Иницијатор: ISS

Припада: N022

Врста: Европски стандард

ICS: 31.080

Језик: енглески

Напомена: plan 2012.

Куповина

Статус: Објављен

PDF

Папир

PDF и папир

Online читање 5 дана

Online читање 30 дана

Језик

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Opisuje metodu ispitivanja, strukturu ispitivanja i metodu procene veka trajanja vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za međumetalne slojeve kod poluprovodničkih komponenti.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
SRPS EN 62374-1:2013
60.60 Стандард објављен
28. 1. 2013.

SRPS EN 62374-1:2013

Poluprovodničke komponente — Ispitivanje vremenski zavisnog dielektričnog proboja (TDDB) za međumetalne slojeve

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Опште информације

Куповина

Апстракт

Животни циклус

ТРЕНУТНО

Повезани пројекти

Идентичан са EN 62374-1:2010

Идентичан са EN 62374-1:2010/AC:2011