SRPS EN 60749-28:2017

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 28: Ispitivanje osetljivosti na elektrostatičko pražnjenje (ESD) – Model sa elektrostatički napunjenom komponentom (CDM) – nivo komponente

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Апстракт

IEC 60749-28:2017(E) uspostavlja proceduru za ispitivanje, ocenjivanje, i klasifikaciju komponenata i mikro kola prema njihovoj osetljivosti na oštećenja ili degradacije usled izloženosti elektrostatičkom pražnjenju (ESD) modela sa elektrostatički napunjenom komponentom (CDM). Sve upakovane poluprovodničke komponente, tankoslojna kola, komponente sa površinskim akustičnim talasima (SAW), opto-elektronske komponente, hibridna integrisana kola (HICs), i moduli sa više čipova (MCMs) koji sadrže bilo koju od ovih komponenata treba oceniti prema ovom dokumentu. Da bi se izvršila ispitivanja, komponente se sklapaju u kućište slično onom koje se očekuje u završnoj upotrebi. Ovaj CDM dokument se ne primenjuje na uređaje za ispitivanje modela pražnjenja sa utičnicom. Ovaj dokument opisuje metodu sa indukovanim poljem (FI). Alternativna metoda, npr. metoda sa direktnim kontaktom (DC) opisana je u prilogu I.Svrha ovog dokumenta je da uspostavi metodu ispitivanja koja će da ponovi CDM otkaze i da obezbedi pouzdane i ponovljive CDM ESD rezultate ispitivanja od komponenata do komponenata za ispitivanje, bez obzira na tip komponente. Ponovljivi podaci će omogućiti precizne klasifikacije i upoređivanje nivoa osetljivosti CDM ESD.