SRPS EN ISO 16526-2:2020

Испитивањe без разарања — Мерење и оцена напона рендгенске цеви —Део 2: Метода провере сталности напона употребом дебелог филтера

Non-destructive testing - Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage - Part 2: Constancy check by the thick filter method (ISO 16526-2:2011)

Апстракт

ISO 16526-2:2011 утврђује провера константности рендгенских система, где се углавном проверава напон рендгенске цеви и осим тога струја цеви и одређује циљ који може да се мења због старења цеви. Метода дебелог филтера се заснива на мерењу односа количине зрачења иза дефинисаног дебелог филтера помоћу дефинисаних растојања између рендгенскер цеви, филтера и уређаја за мерење. Ова метода је веома осетљива на промене напона, али то не даје апсолутну вредност за напон цеви X-зрака.