SRPS EN ISO 16526-2:2020

Ispitivanje bez razaranja — Merenje i ocena napona rendgenske cevi —Deo 2: Metoda provere stalnosti napona upotrebom debelog filtera

Non-destructive testing - Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage - Part 2: Constancy check by the thick filter method (ISO 16526-2:2011)

Apstrakt

ISO 16526-2:2011 utvrđuje provera konstantnosti rendgenskih sistema, gde se uglavnom proverava napon rendgenske cevi i osim toga struja cevi i određuje cilj koji može da se menja zbog starenja cevi. Metoda debelog filtera se zasniva na merenju odnosa količine zračenja iza definisanog debelog filtera pomoću definisanih rastojanja između rendgensker cevi, filtera i uređaja za merenje. Ova metoda je veoma osetljiva na promene napona, ali to ne daje apsolutnu vrednost za napon cevi X-zraka.