SRPS EN IEC 60749-30:2020

Полупроводничке компоненте - Методе механичких и климатских испитивања - Део 30: Прекондиционирање пре испитивања поузданости нехерметичких компонената за површинску монтажу

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Апстракт

IEC 60749-30:2020 утврђује стандардне процедуре за одређивање прекондиционирања нехерметичких површински монтираних комоненти (SMD) пре испитивања поузданости.

Метод испитивања дефинише ток прекондиционирања за нехерметичке полупроводничке површински монтиране компоненте који представљају типичне индустријске вишеструке „reflow“ операције.

Ови SMD-ови се подвргавају одговарајућој секвенци прекондиционирања описаној у овом документу пре него што се подвргну одређеним интерним испитивањима поузданости (квалификација и/или надгледање поузданости) како би се проценила дугорочна поузданост (под утицајем напрезања лемљења). Ово издање укључује следеће значајне техничке измене у односу на претходно издање:

- укључивање нове тачке 3;

- проширење 6.7 на „reflow“ лемљење;

- укључивање објашњења и појашњења.