dužina uzorka lp, lr, lw

length in the direction of the X-axis used for identifying the irregularities characterizing the profile under evaluation NOTE The sampling length for the roughness lr and waviness profiles lw is numerically equal to the characteristic wavelength of the profile filters λc and λf, respectively. The sampling length for primary profile (lp) is equal to the evaluation length

dužina u pravcu X-ose koja se koristi za ustanovljavanje nepravilnosti koje karakterišu profil vrednovanja NAPOMENA Dužina uzorka profila hrapavosti lr i profila valovitosti lw je brojčano jednaka karakterističnoj talasnoj dužini profilnih filtera λc i λf. Dužina uzorka za osnovni profil (lp) je jednaka dužini vrednovanja.

dužina u pravcu X-ose koja se koristi za ustanovljavanje nepravilnosti koje karakterišu profil vrednovanja NAPOMENA Dužina uzorka profila hrapavosti lr i profila valovitosti lw je brojčano jednaka karakterističnoj talasnoj dužini profilnih filtera λc i λf. Dužina uzorka za osnovni profil (lp) je jednaka dužini vrednovanja.