mikroskopija atomskih sila, AFM; skenirajuća mikroskopija sila; SFM

scanning force microscopy (deprecated) SFM (deprecated) method for imaging surfaces by mechanically scanning their surface contours, in which the deflection of a sharp tip sensing the surface forces, mounted on a compliant cantilever, is monitored [SOURCE: ISO 18115‑2, definition 4.3] Note 1 to entry: AFM can provide a quantitative height image of both insulating and conducting surfaces. Note 2 to entry: Some AFM instruments move the sample in the x-, y- and z-directions while keeping the tip position constant and others move the tip while keeping the sample position constant. Note 3 to entry: AFM can be conducted in vacuum, a liquid, a controlled atmosphere or air. Atomic resolution may be attainable with suitable samples, with sharp tips and by using an appropriate imaging mode. Note 4 to entry: Many types of force can be measured, such as the normal forces or the lateral, friction or shear force. When the latter is measured, the technique is referred to as lateral, frictional or shear force microscopy. This generic term encompasses all of these types of force microscopy. Note 5 to entry: AFMs can be used to measure surface normal forces at individual points in the pixel array used for imaging. Note 6 to entry: For typical AFM tips with radii < 100 nm, the normal force should be less than about 0,1 μN, depending on the sample material, or irreversible surface deformation and excessive tip wear occurs.

instrument za vizuelizciju površine mehaničkim prevlačenjem sonde koju nosi konzola preko reljefne površine materijala merenjem deformacije gredice sonde usled promene intenziteta sile interakcije oštrog vrha sonde (igle) i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: AFM omogućava topografiju površine kako provodnih, tako i električno neprovodnih materijala. NAPOMENA 2 uz termin: Neki od AFM instrumenata imaju mogućnost pomeranja uzorka u x-, y- i z-pravcu, uz zadržavanje vrha sonde u jednom položaju, dok je kod nekih omogućeno pomeranje sonde, uz zadržavanje uzorka u jednom položaju. NAPOMENA 3 uz termin: AFM je moguće izvoditi u vakuumu, tečnosti, kontrolisanoj atmosferi ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići na odgovrajućim uzorcima, korišćenjem oštrog vrha sonde i odgovarajućeg moda slike. NAPOMENA 4 uz termin: Moguće je meriti mnogo različitih sila, kao što su normalne, bočne, sile trenja i smicanja, i tada se koriste termini mikroskopija bočnih sila, sila trenja ili smicanja. Generički termin uključuje sve pomenute tipove. NAPOMENA 5 uz termin: AFM se može koristiti za merenje sila normalnih na površinu pojedinačnih tačaka u nizu piksela koji generišu sliku. NAPOMENA 6 uz termin: Za tipičan prečnik vrha igle < 100 nm, normalna sila treba da bude manja od 0.1 μN, u zavisnosti od svojstava uzorka, jer inače dolazi do trajne deformacije vrha igle i površine.

instrument za vizuelizciju površine mehaničkim prevlačenjem sonde koju nosi konzola preko reljefne površine materijala merenjem deformacije gredice sonde usled promene intenziteta sile interakcije oštrog vrha sonde (igle) i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: AFM omogućava topografiju površine kako provodnih, tako i električno neprovodnih materijala. NAPOMENA 2 uz termin: Neki od AFM instrumenata imaju mogućnost pomeranja uzorka u x-, y- i z-pravcu, uz zadržavanje vrha sonde u jednom položaju, dok je kod nekih omogućeno pomeranje sonde, uz zadržavanje uzorka u jednom položaju. NAPOMENA 3 uz termin: AFM je moguće izvoditi u vakuumu, tečnosti, kontrolisanoj atmosferi ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići na odgovrajućim uzorcima, korišćenjem oštrog vrha sonde i odgovarajućeg moda slike. NAPOMENA 4 uz termin: Moguće je meriti mnogo različitih sila, kao što su normalne, bočne, sile trenja i smicanja, i tada se koriste termini mikroskopija bočnih sila, sila trenja ili smicanja. Generički termin uključuje sve pomenute tipove. NAPOMENA 5 uz termin: AFM se može koristiti za merenje sila normalnih na površinu pojedinačnih tačaka u nizu piksela koji generišu sliku. NAPOMENA 6 uz termin: Za tipičan prečnik vrha igle < 100 nm, normalna sila treba da bude manja od 0.1 μN, u zavisnosti od svojstava uzorka, jer inače dolazi do trajne deformacije vrha igle i površine.