skenirajuća transmisiona elektronska mikroskopija; STEM

method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by a finely focused electron beam, scanned over the surface and which passes through the sample and interacts with it Note 1 to entry: Typically uses an electron beam with a diameter of less than 1 nm. Note 2 to entry: Provides high-resolution imaging of the inner microstructure and the surface of a thin sample [or small particles (2.9)], as well as the possibility of chemical and structural characterization of micrometre and sub-micrometre domains through evaluation of the X-ray spectra and the electron diffraction pattern.

metoda kojom se stvaraju uvećane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću fino usmerenog snopa elektrona kojim se površina uzorka skenira i koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim NAPOMENA 1 uz termin: Obično se koristi snop elektrona sa prečnikom manjim od 1 nm. NAPOMENA 2 uz termin: Omogućava stvaranje slika sa velikom rezolucijom unutrašnje mikrostrukture i površine tankih uzoraka [ili malih čestica (2.9)] i omogućava hemijsko i strukturno ispitivanje mikrometarskih i submikrometarskih domena korišćenjem dobijenih spektara H-zraka i elektronskih difrakcionih struktura.

metoda kojom se stvaraju uvećane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću fino usmerenog snopa elektrona kojim se površina uzorka skenira i koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim NAPOMENA 1 uz termin: Obično se koristi snop elektrona sa prečnikom manjim od 1 nm. NAPOMENA 2 uz termin: Omogućava stvaranje slika sa velikom rezolucijom unutrašnje mikrostrukture i površine tankih uzoraka [ili malih čestica (2.9)] i omogućava hemijsko i strukturno ispitivanje mikrometarskih i submikrometarskih domena korišćenjem dobijenih spektara H-zraka i elektronskih difrakcionih struktura.