niskoenergetska elektronska mikroskopija; LEEM

method that examines surfaces where images and/or diffraction patterns of the surfaces are formed by low-energy elastically backscattered electrons generated by a non-scanning electron beam Note 1 to entry: The method is typically used for the imaging and analysis of very flat, clean surfaces. Note 2 to entry: Low energy electrons have energies typically in the range 1 eV to 100 eV.

metoda kojom se ispituju površine na kojima se slike i/ili difrakcione strukture uzorka formiraju korišćenjem niskoenergetskih elektrona, elastično povratno rasejanih, dobijenih od neskenirajućih elektronskih snopova NAPOMENA 1 uz termin: Ova instrumentalna tehnika se koristi za vizuelizaciju i analizu veoma ravnih i čistih površina. NAPOMENA 2 uz termin: Niskoenergetski elektroni imaju energiju u opsegu od 1 eV do 100 eV.

metoda kojom se ispituju površine na kojima se slike i/ili difrakcione strukture uzorka formiraju korišćenjem niskoenergetskih elektrona, elastično povratno rasejanih, dobijenih od neskenirajućih elektronskih snopova NAPOMENA 1 uz termin: Ova instrumentalna tehnika se koristi za vizuelizaciju i analizu veoma ravnih i čistih površina. NAPOMENA 2 uz termin: Niskoenergetski elektroni imaju energiju u opsegu od 1 eV do 100 eV.