fotoelektronska spektroskopija pobuđena H-zračenjem; XPS

method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons and Auger electrons (4.15) emitted from a surface irradiated by X-ray photons Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Ka and Mg Ka X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Ka X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.

metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije fotoelektrona i Ožeovih elektrona (4.15), emitovanih sa površine uzorka ozračene H-zracima NAPOMENA 1 uz termin: Izvori H-zraka koji se obično koriste su nemonohromatski, Al Ka i Mg Ka X-zračenje, energije 1 486,6 eV i 1 253,6 eV, tim redom. Moderni instrumenti koriste i monohromatsko Al Ka H-zračenje. Neki instrumenti mogu da koriste različite izvore H-zraka sa različitim anodama ili sinhrotronsko zračenje.

metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije fotoelektrona i Ožeovih elektrona (4.15), emitovanih sa površine uzorka ozračene H-zracima NAPOMENA 1 uz termin: Izvori H-zraka koji se obično koriste su nemonohromatski, Al Ka i Mg Ka X-zračenje, energije 1 486,6 eV i 1 253,6 eV, tim redom. Moderni instrumenti koriste i monohromatsko Al Ka H-zračenje. Neki instrumenti mogu da koriste različite izvore H-zraka sa različitim anodama ili sinhrotronsko zračenje.