скенирајућа електронска микроскопија

SEM method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample.

SEM

метода којом се испитују и анализирају физичке информације (као што су секундарни електрони, повратно-расејани електрони, апсорбовани електрони и Х-зрачење), добијене помоћу створеног снопа електрона који скенира површину узорка да би му се одредили структура, хемијски састав и топографија