нискоенергетска електронска микроскопија

LEEM method that examines surfaces, whereby images and/or diffraction patterns of the surfaces are formed by low energy elastically backscattered electrons generated by a non-scanning electron beam Note 1 to entry: The method is typically used for the imaging and analysis of very flat, clean surfaces. Note 2 to entry: Low energy electrons have energies typically in the range 1 eV to 100 eV.

LЕЕМ

метода којом се испитују површине на којима се слике и/или дифракционе структуре узорка формирају коришћењем нискоенергетских електрона, еластично повратно расејаних, добијених од нескенирајућих електронских снопова

Напомена 1 уз термин:   Ова инструментална техника се користи за визуелизацију и анализу веома равних и чистих површина.

Напомена 2 уз термин:   Нискоенергетски електрони имају енергију у опсегу од 1 eV до 100 eV.