површински појачана елипсометријска контрастна микроскопија

SEEC microscopy method of optical imaging using the association of contrast-enhancing surfaces as sample slides and a reflected light optical microscope with crossed polarizers Note 1 to entry: The contrast-enhancing slides are designed to become anti-reflecting when used in these conditions, leading to an increase in the axial sensitivity of the optical microscope by a factor of around 100.

SEEC микроскопија 

метода оптичке визуелизације која користи комбинацију слојева узорка за појачање контраста и рефлектујућих оптичких микроскопа са поларизаторима светлости

Напомена 1 уз термин:   Слојеви са појачањем контраста су пројектовани тако да постају антирефлексиони онда када се користе у овим условима, што доводи до појачане аксијалне осетљивости оптичког микроскопа за фактор од око 100.