спектроскопија на бази губитка енергије електрона

EELS method in which an electron spectrometer (5.13) measures the energy spectrum of electrons from a nominally monoenergetic source emitted after inelastic interactions with the sample, often exhibiting peaks due to specific inelastic loss processes Note 1 to entry: The spectrum obtained using an incident-electron beam of about the same energy as in Auger electron spectroscopy (AES) (5.16) or X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (5.19) peak approximates to the energy loss spectrum associated with that peak. Note 2 to entry: The electron energy loss spectrum, measured with an incident-electron beam, is a function of the beam energy, the angle of incidence of the beam, the angle of emission and the electronic properties of the sample.

EELS

метода у којој електронски спектрометар (5.13) мери енергетски спектар електрона из номинално моноенергетског извора који су емитовани после нееластичне интеракције са узорком, често са пиковима услед специфичних нееластичних процеса губитака енергије

Напомена 1 уз термин:   Спектар добијен коришћењем упадног електронског снопа са енергијом прибижно истом као у спектрометрији Ожеових електрона (AES) (5.16) или фотоелектронској спектроскопији Х-зрака (XPS) (5.19) има пикове који се налазе на приближно истим местима као и у случају спектра губитка енергије електрона.

Напомена 2 уз термин:   Спектар губитка енергије електрона, мерен упадним електронским снопом, зависан је од енергије тог снопа, његовог угла упада, угла под којим се мери емисија и од електронских својстава узорка.