фотоелектронска спектроскопија побуђена Х-зрацима

XPS method in which an electron spectrometer (5.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons (5.18) and Auger electrons (5.15) emitted from a surface irradiated by X-ray photons Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Kα and Mg Kα X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Kα X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.

XPS

метода у којој се електронски спектрометар (5.13) користи за мерење расподеле енергије фотоелектрона (5.18) и Ожеових електрона (5.15), емитованих са површине узорка озрачене Х-зрацима

Напомена 1 уз термин:   Извори Х-зрака који се обично користе су немонохроматски, Al Kα и Mg Kα X-зрачење, енергије 1 486,6 еV и 1 253,6 еV, тим редом. Модерни инструменти користе и монохроматско Al Kα Х-зрачење. Неки инструменти могу да користе различите изворе Х-зрака са различитим анодама или синхротронско зрачење.