флуоресценција Х-зрака

XRF secondary radiation occurring when a high intensity incident X-ray beam impinges upon a material placed in the path of the incident beam Note 1 to entry: The secondary emission has wavelengths and energies characteristic of that material.

XRF

метода заснована на мерењу секундарног зрачења које настаје када сноп Х-зрака високог интензитета удари у материјал смештен на пут упадног снопа

Напомена 1 уз термин:   Емитовано секундарно зрачење има таласне дужине и енергије карактеристичне за дати материјал.