0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-17:2019 ED2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
28. 3. 2019.

Опште информације

60.60     28. 3. 2019.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 60749-17:2019 is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
updates to better align the test method with MIL-STD 883J, method 1017, including removal of restriction of use of the document, and a requirement to limit the total ionization dose;
addition of a Bibliography, including US MIL- and ASTM standards relevant to this test method.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-17:2003 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-17:2019 ED2
60.60 Стандард објављен
28. 3. 2019.

Национална преузимања

SRPS EN IEC 60749-17:2020  
ISS

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 17: Neutronsko zračenje

60.60   Стандард објављен

N022 Сазнај више