0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-17:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
20. 2. 2003.

Опште информације

99.60     28. 3. 2019.

WPUB   

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-17:2003 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
28. 3. 2019.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-17:2019 ED2