99.60 4. 11. 2003.
IEC
TC 47
Јавно доступна спецификација
енглески
Замењен
Establishes a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.
ПОВУЧЕН
IEC PAS 62181:2000 ED1
99.60
Повлачење ступило на снагу
4. 11. 2003.
ПОВУЧЕН
IEC 60749-29:2003 ED1