Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC PAS 62181:2000 ED1

IC latch-up test
21. 7. 2000.

Опште информације

99.60     4. 11. 2003.

IEC

TC 47

Јавно доступна спецификација

енглески  

Куповина

Замењен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Establishes a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62181:2000 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
4. 11. 2003.

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 60749-29:2003 ED1