0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-29:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
4. 11. 2003.

Опште информације

99.60     7. 4. 2011.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits.
The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing "No Trouble Found" and "Electrical Overstress" failures due to latch-up.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62181:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-29:2003 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
7. 4. 2011.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-29:2011 ED2