0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60749-17:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
20. 2. 2003.

Опште информације

99.60     28. 3. 2019.

WPUB   

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski   španski  

Kupovina

Revidiran

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

Životni ciklus

TRENUTNO

POVUČEN
IEC 60749-17:2003 ED1
99.60 Povlačenje stupilo na snagu
28. 3. 2019.

REVIDIRAN OD

OBJAVLJEN
IEC 60749-17:2019 ED2