0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-5:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
17. 1. 2003.

Опште информације

99.60     10. 4. 2017.

WPUB   

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62161:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-5:2003 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
10. 4. 2017.

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 60749-5:2017 ED2